IOL hlé á lífsprófunarkerfi

Hlé á lífsprófunarkerfi

Vörulíkan

GK-IOL-X8

GK-IOL-X16

Umfang umsóknar

Hentar fyrir hlé og stöðuga lífstíðarpróf á Si/Sic díóða, smári, MOSFETS, IGBTs og öðrum tækjum í ýmsum umbúðaformum.

Eiginleikar

1, rauntíma mæling á mótum hitastigs TJ sýnisins meðan á tilrauninni stóð og birtingu hitamismunar mótunar △ TJ;

2, að nota mát hönnun, hver eining er sjálfstæð prófunareining. Hver eining er með sjálfstætt prufuhólf sem sannar sannarlega fullkomið sjálfstæði milli stjórna. Loftrásir hverrar prófunareiningar hafa ekki áhrif á hvort annað;

3, í kembiforriti, hvort sem það er í ON eða utan ástands, er hægt að safna mótum TJ á hverri sekúndu og hægt er að draga fullkomna hitabreytingarferil til að koma í veg fyrir skemmdir á tækjum þegar leitað er að prófunarskilyrðum;

4, allar stöðvar eru tengdar samhliða og prófstraumurinn er áfram stöðugur;

5, búin VF bótastarfsemi;

6, ferilfestingaraðgerð, fáðu samsvarandi VF á tímanum t =0 og reiknaðu hinn sanna TJ

Prófunarrás

8 (eitt borð, eitt svæði)

16 (eitt borð, eitt svæði)

Prófunargeta

48×8=384

48×16=768

Grunnaðgerð

①each rás veitir mengi sjálfstæðra forritanlegra aflgjafa;

② Test breytur (ton/toff, vgs, im, ids, vds, fan mode); Styðja TJ uppgötvun fyrir allar vinnustöðvar;

③ Fyrir díóða og IGBTS, röð er notuð og prófunarstraumurinn fyrir hverja vinnustöð er 0-20 a; Fyrir MOS er samhliða tenging samþykkt, með stöðugum straumi á hverri vinnustöð;

④each rás veitir mengi sjálfstæðra forritanlegra aflgjafa;

Tímasýning á öldrunarstærðum og lýsingu á fullkomnum breytingaferlum;

Hátíðardómstími um hvort farið sé yfir mörkin, viðvörun fyrir að fara yfir mörkin og skrá yfir umfram stöðina og fara yfir tíma;

Ytri víddir

W1140mmхH1820mmхd1320mm

W1620mmхH1820mmхd1320mm

Þyngd

um 500 kg

um 800 kg